服務(wù)熱線(xiàn)
18610082868
二次離子質(zhì)譜儀是一種用于分析材料表面和界面化學(xué)成分的強(qiáng)大工具。在材料科學(xué)領(lǐng)域,SIMS被廣泛用于研究材料的成分、結(jié)構(gòu)以及元素分布,為創(chuàng)新應(yīng)用提供了重要的技術(shù)支持。以下是一些二次離子質(zhì)譜儀在材料科學(xué)領(lǐng)域的創(chuàng)新應(yīng)用:
掃一掃 微信咨詢(xún)
© 2025 英格海德分析技術(shù)有限公司 版權(quán)所有 備案號(hào):京ICP備05008133號(hào)-4 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸 sitemap.xml